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光學圖像的缺陷補償方法

專利國別: 中華民國  瀏覽人次: 21  發表日期: 2017-09-30 14:58:38  最後修改: 2017-11-14 14:26:56

項目 內容
本校案號 P105008
發明人 許巍嚴
所屬院 管理學院
所屬系所 資訊管理學系所
類型 發明
申請號 105129996
申請日期 2016-09-14
公開號 I590191
公開日期 2017-07-01
證書號 I590191
核准日期 2017-07-01
國際分類號 G06T-005/00(2006.01)
專利權期間 2017.07.01~2036.09.13
專利摘要 本發明提供一種光學圖像的缺陷補償方法,其係先取得一光學圖像;接續對光學圖像進行二值化、型態學閉合、邊緣偵測、霍夫變換步驟而得到多個模擬圓形圖像。本發明並提出以雜訊去除圖像的像素點數量作為一基準半圓形面積值,並由此基準半圓形面積值得到一基準半徑值;再以此基準半徑值與多個模擬圓形圖像之半徑值進行比對。比對後,由多個模擬圓形圖像篩選出與最初之光學圖像最匹配之一模擬圓形圖像,並以此取代最初之光學圖像以便補償光學圖像缺陷。藉此,本發明之光學圖像的缺陷補償方法具有高運算效率及高準確度。
專利權人 國立中正大學

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