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近場天線量測方法及其量測系統

專利國別: 中華民國  瀏覽人次: 19  發表日期: 2017-11-10 14:55:19  最後修改: 2017-11-14 14:16:08

項目 內容
本校案號 P105001
發明人 蔡作敏、邱柏瑞、蔡東展
所屬院 工學院
所屬系所 電信研究中心
類型 發明
申請號 105105870
申請日期 2016-02-26
公開號 201730569
公開日期 2017-09-01
證書號 I603099
核准日期 2017-10-21
國際分類號 G01R-029/08(2006.01);G01R-029/10(2006.01);G01R-029/00(2006.01)
專利權期間 2017.10.21~2036.02.25
專利摘要 本發明係揭露一種近場天線量測方法及其量測系統,其係選取對應一待測天線之一量測區塊,以於量測區塊上量測待測天線發射之天線訊號。首先,於量測區塊上選取複數初始量測點,並在初始量測點量測天線訊號之初始電場值。接著,於量測區塊上選取複數初始內插點,每一初始內插點與其相鄰之初始內插點或初始量測點之距離係小於天線訊號之波長的一半,並對初始電場值進行內插,以得到分別對應初始內插點之初始電場內插值。最後,處理初始電場值與初始電場內插值,以於初始量測點與初始內插點得到天線訊號之電場收斂值,以解決量測上的耗時問題。
專利權人 國立中正大學

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