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含貴金屬之檢測裝置及檢測系統及其方法「含贵金属的检测装置及检测系统及其方法」

專利國別: 中國大陸  瀏覽人次: 260  發表日期: 2021-02-18 15:33:43  最後修改: 2021-02-18 15:33:43

項目 內容
專利讓與

一、依據本校第311次智慧財產權審議委員會辦理。

二、公告日:2020年2月18日(星期四)。

三、公告讓與期間:自公告日起3個月。

四、敬請有興趣辦理受讓之廠商,或對受讓申請程序有任何疑問者,聯繫研發處技術推廣中心洽談,電話:05-2720411轉16501、16504。

本校案號 P95013CN
發明人 周禮君、許偉庭、謝文馨、陳柏良、邱冠智
所屬院 理學院
所屬系所 化學暨生物化學系所
類型 發明
申請號 200610001734.7
申請日期 2006-01-23
公開號 CN101008608B
公開日期 2010-12-22
證書號 719700
核准日期 2010-12-22
國際分類號 G01N21/55(2006.01)
專利權期間 2006.01.23~2026.01.23
專利摘要 本发明是揭露一种含贵金属的检测装置及检测系统及其方法。此含贵金属的检测装置包含一平面波导板、一贵金属奈米粒子层及一上盖。其中,平面波导板具有一上平面,贵金属奈米粒子层均匀的分布于平面波导板的上平面上,上盖具有一凹槽并且盖合于平面波导板的上平面,使凹槽与上平面形成一空间。爰此,以含贵金属奈米粒子的检测装置引入一入射光,以检测容置于上述空间的待测物质。
專利權人 國立中正大學(信託發明人)

附件

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