專利國別

  美國   

發表日期

2023-06-06 11:46:10

專利讓與

一、依據國科會中華民國111年01月10日科部產字第1110002329號函辦理。

二、依據本校第366次智慧財產權審議委員會辦理。

三、公告日：2023年06月06日(星期二)。

四、讓與公告期間：自公告日起3個月。

五、敬請有興趣辦理受讓之廠商，或對受讓申請程序有任何疑問者，聯繫研發處技術推廣中心洽談，電話：05-2720411轉16501、16505。

本校案號

P104001A

專利名稱

METHOD OF EXAMINING PURITY OF DENDRIMERS

發明人

王少君、高佳麟、曾惠鈺

所屬院

理學院

提案單位

化學暨生物化學系所

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

14/723,790

申請日期

2015-05-28

公開號

公開日期

證書號

US 9,470,625 B2

核准日期

2016-10-18

國際分類號

G01N-021/00(2006.01)；G01N-021/47(2006.01)；G01N-021/49(2006.01)

專利權期間

2015.05.28~2035.05.28(延長13天至2035.06.10)

專利摘要

A method of examining the purity of dendrimers is revealed. It comprises steps of measuring a light scattering intensity of a set of pure standards having a specific molecular weight with a static laser light scattering detector by use of flow injection polymer analysis; establishing a scaling relation by doing a regression of a ratio of the light scattering intensity per concentration (I/c) against molecular weight (M.W.); measuring the light scattering intensity of a dendrimer to be tested having the same unit and surface-modified functional group as the set of pure standards, and examining the purity of the dendrimer to be tested according to the scaling relation.

圖示