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專利國別 |
美國 |
發表日期 |
2016-06-13 14:43:14 |
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本校案號 |
P101032A |
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專利名稱 |
石墨烯薄膜層數檢測系統及檢測方法 「SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING NUMBER OF LAYERS OF A FEW-LAYER GRAPHENE」 |
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發明人 |
王祥辰、吳官晃、楊哲明 |
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所屬院 |
工學院 |
提案單位 |
光機電整合工程研究所 |
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類型 |
發明 |
專利權人 |
國立中正大學 |
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申請號 |
13/923,587 |
申請日期 |
2013-06-21 |
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公開號 |
US 2014-0376799 A1 |
公開日期 |
2014-12-25 |
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證書號 |
US 9,234,798 B2 |
核准日期 |
2016-01-12 |
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國際分類號 |
G01B-011/06(2006.01)；G01J-003/28(2006.01)；G01J-003/42(2006.01)；G01J-003/44(2006.01)；G01J-003/457(2006.01)；G06K-009/00(2006.01)；G06K-009/62(2006.01)；G01N-021/31(2006.01)；G01N-021/84(2006.01)；G06T-007/00(2006.01)；H01L-021/66(2006.01)；H04N-001/60(2006.01) |
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專利權期間 |
2013.03.21~2033.03.21(延長319天至2034.05.06) |
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專利摘要 |
Provided are a system and a method for detecting a number of layers of few-layer graphene employing multispectral image reproduction process to provide rapid detection of numbers of layers of few-layer graphenes on transparent or non-transparent substrates. The application of the system and method in relevant industries expedites validation and/or verification of the number of layers of an FLG product and improves the quality control efficiency thereof. |
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圖示 |
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