專利國別

  中華民國   

發表日期

2021-08-11 13:57:39

本校案號

P108017TW

專利名稱

二維材料薄膜檢測方法及二維材料薄膜檢測系統

發明人

王祥辰、李愷竣、柯凱翔、梁俊文

所屬院

工學院

提案單位

機械工程學系

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

109114945

申請日期

2020-05-05

公開號

202142862

公開日期

2021-11-16

證書號

I732544

核准日期

2021-07-01

國際分類號

G01N-021/95(2006.01);G01N-021/65(2006.01);G06N-003/08(2006.01)

專利權期間

2021.07.01~2040.05.04

專利摘要

本發明揭露一種二維材料薄膜檢測方法及二維材料薄膜檢測系統，檢測方法包含下列步驟：拍攝二維材料薄膜各自之樣品影像，通過拉曼光譜儀量測二維材料薄膜，藉由處理器進行樣品影像之可見光超頻譜演算，產生複數個可見光超頻譜影像。進行訓練與驗證程序，將可見光超頻譜影像進行影像特徵演算，並進行驗證以建立薄膜預測模型。通過光學顯微鏡拍攝待測薄膜影像，進行可見光超頻譜演算，再依據薄膜預測模型分析，產生待測薄膜影像之分布結果。

圖示