專利國別

  日本   

發表日期

2022-12-23 11:49:43

本校案號

P108017J

專利名稱

二維材料薄膜檢測方法及二維材料薄膜檢測系統「２次元材料薄膜検出方法および２次元材料薄膜検出システム」

發明人

王祥辰、李愷竣、柯凱翔、梁俊文

所屬院

工學院

提案單位

機械系

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

特願2021-003315

申請日期

2021.01.13

公開號

P2021-177163A

公開日期

2021.11.11

證書號

特許第7157480号

核准日期

2022.10.22

國際分類號

Ｇ０１Ｎ 21/27(2006.01) Ｇ０６Ｔ 7/60 (2017.01) Ｇ０６Ｔ 7/00 (2017.01) Ｇ０１Ｎ 21/65 (2006.01)

專利權期間

2021.01.13~2041.01.13

專利摘要

【課題】２次元材料薄膜検出方法および２次元材料薄膜検出システムを提供する。【解決手段】光学顕微鏡を介して複数の２次元材料薄膜のそれぞれのサンプル画像を撮り、記憶装置に保存しＳ１、前記複数の２次元材料薄膜をラマン分光計を介して測定し、複数の層数および複数の位置を前記記憶装置に保存しＳ２、プロセッサを介して、前記記憶装置をアクセスし、複数の可視光ハイパースペクトル画像を生成しＳ３、前記プロセッサを介してトレーニングおよび検証手順を実行し、前記複数の可視光ハイパースペクトル画像に対して画像特徴計算を実行し、前記複数の層数および前記複数の位置と共に検証を実行して薄膜予測モデルを確立しＳ４、前記光学顕微鏡を介して前記２次元材料薄膜の検出待ち薄膜画像を撮り、前記プロセッサを介して前記可視光ハイパースペクトル計算を実行し、前記薄膜予測モデルに基づいて前記検出待ち薄膜画像の分布結果を生成するＳ５。

圖示