專利國別

   中華民國   

發表日期

115-05-11

專利讓與

一、依據國科會中華民國113年01月03日科部產字第1130001031號函辦理。

二、依據本校第421次智慧財產權審議委員會辦理。

三、公告日：115年05月11日（星期一）

四、公告讓與期間：自公告日起3個月。

五、敬請有興趣辦理受讓之廠商，或對受讓申請程序有任何疑問者，聯繫研發處技術推廣中心洽談，電話：05-2720411轉16501、16505。

本校案號

P101019

專利名稱

多工光纖光學生物感測及偵測方法

發明人

周禮君、黃貞翰、林幸瑩、劉又嘉

所屬院

理學院

提案單位

化學暨生物化學系

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

101126079

申請日期

2012-07-19

公開號

201405118

公開日期

2014-02-01

證書號

I472746

核准日期

2015-02-11

國際分類號

G01N-021/31(2006.01)；G01N-021/55(2014.01)

專利權期間

2015.02.11~2032.07.18

專利摘要

本發明係揭露一種多工光纖光學生物感測器，包含光纖、複數個貴金屬奈米粒子層、複數個光源以及光源函數產生器。光纖係包括複數個感測區，且感測區為去除光纖之包覆層使光纖核心裸露之結構。不同種類之貴金屬奈米粒子層係設置於各感測區，此些相異貴金屬奈米粒子具有相異之特定光吸收之波段。此些光源分別發出相異波長之光線，並且此些貴金屬奈米粒子層分別吸收相異波長之光線。光源函數產生器係產生一函數，用以使該些光源依據該函數以相異時間序列或相異載波頻率發光。其中，當此些光源之光線以相異時間序列或相異載波頻率訊號入射至光纖時，利用一偵測單元偵測此些貴金屬奈米粒子層與一待測物交互作用所產生之一粒子電漿共振訊號之變化量。

圖示