【專利公告讓與】P107012DE-待測物濃度之測定方法及套組

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專利國別

   德國   申請中

發表日期

2026-06-04

專利讓與

一、依據國科會中華民國113年01月03日科部產字第1130001031號函辦理。

二、依據本校第422次智慧財產權審議委員會辦理。

三、公告日:2026年06月04日(星期四)

四、公告讓與期間:自公告日起3個月。

五、敬請有興趣辦理受讓之廠商,或對受讓申請程序有任何疑問者,聯繫研發處技術推廣中心洽談,電話:05-2720411轉16501、16503、16505。

本校案號

P107012DE

專利名稱

待測物濃度之測定方法及套組

發明人

周禮君、江昌嶽、楊宗諭、張博雅

所屬院

理學院

提案單位

化學暨生物化學系所

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

102019122172.2

申請日期

2019-08-19

公開號

DE102019122172A1

公開日期

2020.03.05

證書號

核准日期

國際分類號

G01N33/483(2006.01); B82Y 15/00(2011.01); G01N 21/55(2014.01); G01N 33/543(2006.01)

專利權期間

專利摘要

A method of measuring a concentration of analyte is provided. The method of measuring a concentration of analyte includes: reacting a nanoparticle solution and an optical waveguide element with a test solution including the analyte to form a sandwich structure; and calculating the concentration of the analJ;te based on a variety of the absorbance of the nanop詞cles or the light scattering by nanoparticles obtair'1ed by a photodetector, wherein the variety comes from nanoparticles included in the nanoparticle solution which absorb or scatter an evanescent wave of the optical waveguide. A recognition element used to detect the analyte is modified on surfaces of the nanoparticles and a recognition element used to capture the analyte is modified on surfaces of the optical waveguide element.

圖示

【專利公告讓與】P107012DE-待測物濃度之測定方法及套組

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