專利國別

  中華民國   

發表日期

2015-07-28 16:33:04

本校案號

P101032

專利名稱

石墨烯薄膜層數檢測系統及檢測方法

發明人

王祥辰、吳官晃、楊哲明

所屬院

工學院

提案單位

光機電整合工程研究所

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

102102142

申請日期

2013-01-21

公開號

201430330

公開日期

2014-08-01

證書號

I485383

核准日期

2015-05-21

國際分類號

G01N-021/25(2006.01)

專利權期間

2015.05.21~2033.01.20

專利摘要

本發明係關於一種應用於石墨烯薄膜層數檢測的影像分析系統及方法；其系統包括一觀察模組、一取像模組以及一多頻譜色彩影像再現模組；其方法係包括一石墨烯薄膜頻譜資料庫的建立流程以及一多頻譜色彩再現影像之石墨烯薄膜層數檢測流程，前者包括一頻譜分析步驟、一主軸成份分析步驟及一資料庫建立步驟，後者包括一擷取影像步驟、一頻譜分析步驟、一石墨烯薄膜層數分類步驟、一色彩增益步驟、一色彩影像再現步驟以及一石墨烯薄膜層數檢測步驟；藉此能夠以簡便的設備快速地檢測石墨烯薄膜的層數狀態。

圖示