【專利公告讓與】P92009-以薄膜層進行銅導線晶片之銲線製程方法

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專利國別 |
中華民國 |
發表日期 |
2009-06-24 09:37:42 |
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專利讓與 |
一、依據科技部中華民國103年03月12日科部產字第1030018549號辦理。 二、公告日:2014年03月21日(星期五)。 三、公告讓與期間:自公告日起3個月。 四、敬請有興趣辦理受讓之廠商,或對受讓申請程序有任何疑問者,聯繫研發處技術推廣中心洽談,電話:05-2720411轉16501、16504。 |
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本校案號 |
P92009 |
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專利名稱 |
以薄膜層進行銅導線晶片之銲線製程方法 |
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發明人 |
鄭友仁、邱桑茂 |
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所屬院 |
工學院 |
提案單位 |
機械工程學系暨研究所 |
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類型 |
發明 |
專利權人 |
國立中正大學 |
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申請號 |
093108355 |
申請日期 |
2004-03-26 |
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公開號 |
200532826 |
公開日期 |
2005-10-01 |
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證書號 |
I236078 |
核准日期 |
2005-07-11 |
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國際分類號 |
H01L-021/60(2006.01) |
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專利權期間 |
2005.07.11~2024.03.25 |
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專利摘要 |
本發明提出一種以薄膜層進行銅導線晶片之銲線製程方法,其目的在於解決習知銅導線晶片於銲線時,因銅銲墊氧化而導致銲點強度不佳,進而影響製程良率之問題。本發明所提出之以薄膜層進行銅導線晶片之銲線製程方法,其包含提供一晶片,該晶片具有一銅銲墊;提供一溶液使得該些銅銲墊上形成氧化亞銅薄膜;以及製作一銲線於該銅銲墊,並同時提供一超音波移除該氧化亞銅薄膜,使得該銲線的銲點建立於該銅銲墊上。 |
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圖示 |
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