【專利公告讓與】P95013CN-含貴金屬之檢測裝置及檢測系統及其方法「含贵金属的检测装置及检测系统及其方法」

|
專利國別 |
中國大陸 |
發表日期 |
2021-02-18 15:33:43 |
|
專利讓與 |
一、依據本校第311次智慧財產權審議委員會辦理。 二、公告日:2020年2月18日(星期四)。 三、公告讓與期間:自公告日起3個月。 四、敬請有興趣辦理受讓之廠商,或對受讓申請程序有任何疑問者,聯繫研發處技術推廣中心洽談,電話:05-2720411轉16501、16504。 |
||
|
本校案號 |
P95013CN |
||
|
專利名稱 |
含貴金屬之檢測裝置及檢測系統及其方法「含贵金属的检测装置及检测系统及其方法」 |
||
|
發明人 |
周禮君、許偉庭、謝文馨、陳柏良、邱冠智 |
||
|
所屬院 |
理學院 |
提案單位 |
化學暨生物化學系所
|
|
類型 |
發明 |
專利權人 |
國立中正大學(信託發明人) |
|
申請號 |
2.00610001734.7 |
申請日期 |
2006-01-23 |
|
公開號 |
CN101008608B |
公開日期 |
2010-12-22 |
|
證書號 |
719700 |
核准日期 |
2010-12-22 |
|
國際分類號 |
G01N21/55(2006.01) |
||
|
專利權期間 |
2006.01.23~2026.01.23 |
||
|
專利摘要 |
本发明是揭露一种含贵金属的检测装置及检测系统及其方法。此含贵金属的检测装置包含一平面波导板、一贵金属奈米粒子层及一上盖。其中,平面波导板具有一上平面,贵金属奈米粒子层均匀的分布于平面波导板的上平面上,上盖具有一凹槽并且盖合于平面波导板的上平面,使凹槽与上平面形成一空间。爰此,以含贵金属奈米粒子的检测装置引入一入射光,以检测容置于上述空间的待测物质。 |
||
|
圖示 |
|||



