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【專利核准公告】P104019-傾斜角度與距離量測方法(已終止維護)

專利核准-上格線

專利國別

  中華民國   

發表日期

2017-06-08 14:17:49

本校案號

P104019

專利名稱

傾斜角度與距離量測方法

發明人

劉建聖、黃彥勝、陳昱達

所屬院

工學院

提案單位

精密模具研究中心

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

104144438

申請日期

2015-12-30

公開號

201723428

公開日期

2017-07-01

證書號

I580930

核准日期

2017-05-01

國際分類號

G01C-009/00(2006.01);G01S-017/46(2006.01)

專利權期間

2017.05.01~2035.12.29

專利摘要

本發明係一種傾斜角度與距離量測方法,係藉由分光鏡及凸透鏡之組合將光源入射至待測物上,並透過光電感應模組接收待測物所反射之光源,再由處理單元依據待測物所反射之光源於光電感應模組上所產生之光斑之重心座標計算出待測物之距離與傾斜角度。

圖示

104019

專利核准-下格線

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