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【可授權專利公告】P103003-粒子電漿共振光譜量測系統及方法

可授權專利-上隔線

專利國別

  中華民國   

發表日期

2016-07-21 09:56:06

本校案號

P103003

專利名稱

粒子電漿共振光譜量測系統及方法

發明人

周禮君、陳建興、王之鐸、吳瑋特

所屬院

理學院

提案單位

化學暨生物化學系所

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

103114623

申請日期

2014-04-22

公開號

201541067

公開日期

2015-11-01

證書號

I537552

核准日期

2016-06-11

國際分類號

G01N-021/25(2006.01);G01N-021/552(2014.01)

專利權期間

2016.06.11~2034.04.21

專利摘要

本發明係揭露一種粒子電漿共振光譜量測系統及方法,包含光源、複合式平台、偵測單元、第一光纖元件及第二光纖元件。其中複合式平台係用以置放表面包含具有粒子電漿特性之奈米粒子的待測波導元件;偵測單元係用以偵測待測波導元件所發出載有粒子電漿共振訊號之出射光;第一光纖元件設置於光源與複合式平台之間;第二光纖元件設置於複合式平台與偵測單元之間。

圖示

P103003

可授權專利-下隔線

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