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【可授權專利公告】P105024-結合格雷編碼之彩色結構光三維量測方法及其系統

可授權專利-上隔線

專利國別

  中華民國   

發表日期

2019-09-25 11:37:20

本校案號

P105024

專利名稱

結合格雷編碼之彩色結構光三維量測方法及其系統

發明人

江佩如、黃柏豪、劉建聖

所屬院

工學院

提案單位

精密模具研究中心

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

107107297

申請日期

2018-03-05

公開號

201939444

公開日期

2019-10-01

證書號

I659392

核准日期

2019-05-11

國際分類號

G06T-009/00(2006.01);G06T-015/08(2011.01)

專利權期間

2019.05.11~2038.03.04

專利摘要

本發明提供一種結合格雷編碼之彩色結構光三維量測方法及其系統,其中排列圖案步驟排列出複數個格雷編碼圖案中最大頻率與最小頻率的圖案。圖案結合步驟對應結合第一格雷編碼圖案與第二格雷編碼圖案而產生一格雷結合圖案。投影量測步驟投影格雷結合圖案至待測物體上而形成一變形格雷結合圖案,然後擷取圖案以計算並輸出三維模型。藉此,利用最高頻與最低頻之圖案結合以及次高頻與次低頻之圖案結合來避免頻率過高所產生的條紋模糊問題,使投影的張數為格雷編碼的一半,進而讓整體量測的時間可以快上一倍,且仍具有高精度。

圖示

P105024

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