專利國別 |
中華民國 |
發表日期 |
2024-10-17 16:22:45 |
專利讓與 |
一、依據國科會中華民國113年01月03日科部產字第1130001031號函辦理。 二、依據本校第394次智慧財產權審議委員會辦理。 三、公告日:2024年10月17日(星期四) 四、公告讓與期間:自公告日起3個月。 五、敬請有興趣辦理受讓之廠商,或對受讓申請程序有任何疑問者,聯繫研發處技術推廣中心洽談,電話:05-2720411轉16501、16505。 |
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本校案號 |
P95013 |
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專利名稱 |
含貴金屬之檢測裝置及檢測系統及其方法 |
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發明人 |
周禮君、許偉庭、謝文馨、陳柏良、邱冠智 |
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所屬院 |
理學院 |
提案單位 |
化學暨生物化學系所 |
類型 |
發明 |
專利權人 |
國立中正大學 |
申請號 |
094145360 |
申請日期 |
2005-12-20 |
公開號 |
200724901 |
公開日期 |
2007-07-01 |
證書號 |
I284734 |
核准日期 |
2007-08-01 |
國際分類號 |
G01N-021/55(2006.01) |
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專利權期間 |
2007.08.01~2025.12.19 |
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專利摘要 |
本發明係揭露一種含貴金屬之檢測裝置及檢測系統及其方法。此含貴金屬之檢測裝置包含一平面波導板、一貴金屬奈米粒子層及一上蓋。其中,平面波導板具有一上平面,貴金屬奈米粒子層均勻的分佈於平面波導板之上平面上,上蓋具有一凹槽並且蓋合於平面波導板之上平面,使凹槽與上平面形成一空間。爰此,以含貴金屬奈米粒子之檢測裝置引入一入射光,以檢測容置於上述空間之待測物質。 |
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圖示 |