【專利公告讓與】P107012TW-待測物濃度之測定方法及套組

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專利國別 |
中華民國 |
發表日期 |
2026-06-04 |
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專利讓與 |
一、依據國科會中華民國113年01月03日科部產字第1130001031號函辦理。 二、依據本校第422次智慧財產權審議委員會辦理。 三、公告日:2026年06月04日(星期四) 四、公告讓與期間:自公告日起3個月。 五、敬請有興趣辦理受讓之廠商,或對受讓申請程序有任何疑問者,聯繫研發處技術推廣中心洽談,電話:05-2720411轉16501、16503、16505。 |
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本校案號 |
P107012 |
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專利名稱 |
待測物濃度之測定方法及套組 |
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發明人 |
周禮君、江昌嶽、楊宗諭、張博雅 |
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所屬院 |
理學院 |
提案單位 |
化學暨生物化學系所 |
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類型 |
發明 |
專利權人 |
國立中正大學 |
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申請號 |
107130488 |
申請日期 |
2018-08-31 |
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公開號 |
202011012 |
公開日期 |
2020-02-11 |
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證書號 |
發明第I684756號 |
核准日期 |
2020-02-11 |
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國際分類號 |
G01N-021/47(2006.01);G01N-015/14(2006.01);G02B-006/10(2006.01) |
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專利權期間 |
2020.02.11~2038.08.30 |
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專利摘要 |
本發明提供一種待測物濃度之測定方法,其包含:使其中包含待測物的待測液與其中包含複數個奈米粒子之奈米粒子溶液以及光波導元件反應以形成三明治結構;以及利用光偵檢器測量該複數個奈米粒子形成三明治結構後之吸收或散射該光波導元件的漸逝波能量以獲得第一訊號,並透過該第一訊號算出待測物濃度,其中每一個奈米粒子的表面上皆修飾有偵測辨識元,且光波導元件的表面上修飾有捕獲辨識元。 |
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圖示 |
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