專利國別

   美國   申請中

發表日期

2026-06-04

專利讓與

一、依據國科會中華民國113年01月03日科部產字第1130001031號函辦理。

二、依據本校第422次智慧財產權審議委員會辦理。

三、公告日：2026年06月04日（星期四）

四、公告讓與期間：自公告日起3個月。

五、敬請有興趣辦理受讓之廠商，或對受讓申請程序有任何疑問者，聯繫研發處技術推廣中心洽談，電話：05-2720411轉16501、16503、16505。

本校案號

P112015US(P107012CIP)

專利名稱

待測物濃度之測定方法及套組

發明人

周禮君、江昌嶽、楊宗諭、張博雅

所屬院

理學院

提案單位

化學暨生物化學系所

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

18/214,988

申請日期

2023-06-27

公開號

US 20230341411 A1

公開日期

2023-10-26

證書號

核准日期

國際分類號

G01N-021/47(2006.01)；G01N-015/14(2006.01)；G02B-006/10(2006.01)

專利權期間

專利摘要

A method of measuring a concentration of analyte is provided. The method of measuring a concentration of analyte includes: reacting a nanoparticle solution and an optical waveguide element with a test solution including the analyte to form a sandwich structure; and calculating the concentration of the analyte based on a variety of the absorbance of the nanoparticles or the light scattering by nanoparticles obtained by a photodetector, wherein the variety comes from nanoparticles included in the nanoparticle solution which absorb or scatter an evanescent wave of the optical waveguide. A recognition element used to detect the analyte is modified on surfaces of the nanoparticles and a recognition element used to capture the analyte is modified on surfaces of the optical waveguide element.

圖示