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【專利公告讓與】P107012CN-待測物濃度之測定方法及套組

讓與-上隔線

專利國別

   中華人民共和國   申請中

發表日期

2026-06-04

專利讓與

一、依據國科會中華民國113年01月03日科部產字第1130001031號函辦理。

二、依據本校第422次智慧財產權審議委員會辦理。

三、公告日:2026年06月04日(星期四)

四、公告讓與期間:自公告日起3個月。

五、敬請有興趣辦理受讓之廠商,或對受讓申請程序有任何疑問者,聯繫研發處技術推廣中心洽談,電話:05-2720411轉16501、16503、16505。

本校案號

P107012CN

專利名稱

待测物浓度的测定方法及套组

發明人

周禮君、江昌嶽、楊宗諭、張博雅

所屬院

理學院

提案單位

化學暨生物化學系所

類型

發明

專利權人

國立中正大學

申請號

201811009110.9

申請日期

2018-08-31

公開號

CN110873693A

公開日期

2020-03-10

證書號

核准日期

國際分類號

G01N-021/47(2006.01);G01N-015/14(2006.01);G02B-006/10(2006.01)

專利權期間

專利摘要

本发明提供一种待测物浓度的测定方法,其包含:使其中包含待测物的待测溶液与其中包含多个纳米粒子的纳米粒子溶液以及光波导组件反应以形成三明治结构;以及利用光侦检器测量所述的多个纳米粒子形成三明治结构后的吸收或散射所述的光波导组件的渐逝波能量以获得第一信号,并通过所述的第一信号算出待测物浓度,其中每一个纳米粒子的表面上皆修饰有侦测辨识元,且光波导组件的表面上修饰有捕获辨识元。

圖示

【專利公告讓與】P107012CN-待測物濃度之測定方法及套組

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